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上海百賀儀器科技有限公司

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日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

詳細(xì)摘要：日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700是一款200kV的場發(fā)射球差校正掃描透射電鏡,相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術(shù),大大減小了透鏡球...
產(chǎn)品型號：HD-2700所在地：更新時間：2023-04-22 在線留言
日立場發(fā)射透射電子顯微鏡HF-3300

詳細(xì)摘要：日立場發(fā)射透射電子顯微鏡HF-3300是一款300kV的冷場發(fā)射透射電鏡,日立公司久負(fù)盛名的冷場發(fā)射電子槍和300kV高壓系統(tǒng)相結(jié)合保證了HF-3300具有超高...
產(chǎn)品型號：HF-3300所在地：更新時間：2023-04-22 在線留言
日立原位環(huán)境透射電子顯微鏡H-9500

詳細(xì)摘要：日立原位環(huán)境透射電子顯微鏡H-9500是一款300kV原位環(huán)境透射電鏡,其的特點是可以進(jìn)行原位實時觀察,相比于普通的透射電鏡,H-9500可以實現(xiàn)樣品在不同條件...
產(chǎn)品型號：H-9500所在地：更新時間：2023-04-21 在線留言
日本電子掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要：日本電子掃描電子顯微鏡JSM-6510A/JSM-6510LA型與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。
產(chǎn)品型號：JSM-6510A/JSM-6510LA所在地：更新時間：2023-04-21 在線留言
日本電子掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： JSM-6610A/JSM-6610LA分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS）組合于一體。
產(chǎn)品型號：JSM-6610A/JSM-6610LA所在地：更新時間：2023-04-20 在線留言
JEOL可移動式掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺在任何地方都可以使用的高性能可移動式掃描電子顯微鏡。
產(chǎn)品型號：JCM-5700所在地：更新時間：2023-04-20 在線留言
日本電子掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要：掃描電子顯微鏡JASM-6200(ASEM)是和在其上方設(shè)置的光學(xué)顯微鏡構(gòu)成,能夠在大氣壓下觀察樣品。
產(chǎn)品型號：JASM-6200所在地：更新時間：2023-04-19 在線留言
透射電子顯微鏡

詳細(xì)摘要：透射電子顯微鏡JEM-1400是一款擁有成像和分析能力一體的高性能,高對比度,操作簡便的120KV透射電子顯微鏡。
產(chǎn)品型號：JEM-1400/1011所在地：更新時間：2023-04-19 在線留言
冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要：冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7500F是一款功能強大,操作簡便,節(jié)約能源的分析型場發(fā)射掃描電子顯微鏡。
產(chǎn)品型號：JSM-7500F所在地：更新時間：2023-04-18 在線留言
掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要：掃描電子顯微鏡JSM-6701F是一臺場發(fā)射掃描電子顯微鏡，采用冷陰極場發(fā)射槍、高真空和精密的數(shù)字技術(shù)，可進(jìn)行顯微結(jié)構(gòu)的高分辨率、高質(zhì)量成像。
產(chǎn)品型號：JSM-6701F所在地：更新時間：2023-04-18 在線留言
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要：熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7600F是兼顧冷場的高分辨率和熱場大束流為一體的熱場發(fā)射掃描電鏡。
產(chǎn)品型號：JSM-7600F所在地：更新時間：2023-04-17 在線留言
場發(fā)射掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： Inspect F50 場發(fā)射掃描電子顯微鏡系統(tǒng)操作和維護(hù)方便, 同時可安裝各種掃描電鏡的附件。
產(chǎn)品型號：Inspect F50所在地：更新時間：2023-04-17 在線留言
FEI掃描電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： FEI掃描電子顯微鏡基于Windows XP的圖形用戶界面, 簡單易用。
產(chǎn)品型號：Inspect S50所在地：更新時間：2023-04-17 在線留言
FEI 掃描電子顯微鏡Teneo

詳細(xì)摘要： FEI 掃描電子顯微鏡Teneo可為金屬研究人員、學(xué)術(shù)和工業(yè)研究機構(gòu)提供超高分辨率成像和通量分析性能.
產(chǎn)品型號：Teneo所在地：更新時間：2023-04-17 在線留言
JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

詳細(xì)摘要： JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)...
產(chǎn)品型號：JEM-F200所在地：更新時間：2023-04-15 在線留言